年代學導論/隨機和/或系統
< 年代學導論
隨機/內部不確定性是指與樣品、標準物質和空白的同位素比值測量相關的誤差，用於推匯出放射性同位素比值的誤差。這些不確定性是每個分析固有的，代表必須考慮的最小不確定性。這些隨機不確定性來源中的大多數與質譜測量以及我們測量和再現同位素比值的能力有關。諸如探測器的電子噪聲等因素對在有限時間內檢測一定數量離子的精度（計數統計）設定了理論極限。然而，對於幾乎所有年代學應用，其他因素，如樣品電離過程中發生的質量依賴性分餾的校正，以及常見和/或初始母體和子體核素的校正，在分析不確定性預算中占主導地位。可以透過“雙重加標法”來降低質量依賴性分餾的不確定性，其中使用兩種相同元素的示蹤同位素（例如，202Pb-205Pb 或 233U-235U）進行即時質量分餾校正。