奈米技術/縮略詞
外觀
< 奈米技術
請新增、更新、排序並以其他方式完善此列表!包含維基百科連結以供參考。
請注意,某些縮略詞可能會根據上下文進行改寫。例如,此處列出的AFM指的是原子力顯微鏡本身,但AFM也可能指執行原子力顯微鏡的流程。是否應為常見的詞頭分配單獨的位置?
目前,這並非旨在成為與奈米技術相關的技術或流程的詳盡列表。相反,它旨在成為一個'羅塞塔石碑',供那些不熟悉此行話的人使用。
AFM - 原子力顯微鏡
ALD - 原子層沉積(idem 任意層沉積)
CIGS - 硫化銅銦鎵硒
CNT - 碳奈米管
CVD - 化學氣相沉積
DSC - 差示掃描量熱法
DWNT - 雙壁碳奈米管
EB-PVD - 電子束物理氣相沉積
EBDW - 電子束直寫光刻
EELS - 電子能量損失譜
EMAC - 擴充套件金屬原子鏈
EUV - 極紫外光刻
ITO - 氧化銦錫
MOCVD - 金屬有機化學氣相沉積(idem 金屬有機物氣相外延)
MWNT - 多壁奈米管
NEMS - 奈米機電系統
NIL - 奈米壓印光刻
P-SWNT - 聚合單壁奈米管
PECVD - 等離子體增強化學氣相沉積
PLD - 脈衝雷射沉積(idem 脈衝雷射燒蝕)
PVD - 物理氣相沉積
RIE - 反應離子刻蝕
SAED - 選區電子衍射
SEM - 掃描電子顯微鏡
SIMS - 二次離子質譜
SiNW - 矽奈米線
SPL - 掃描探針光刻
SWNT - 單壁奈米管
STEM - 掃描透射電子顯微鏡
STM - 掃描隧道顯微鏡
TEM - 透射電子顯微鏡
UV/Vis - 紫外-可見光譜
VLS - 氣-液-固法(用於建立一維結構)
XPS - X射線光電子能譜
XRD - X射線衍射
YBCO - 氧化釔鋇銅