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奈米技術/縮略詞

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請注意,某些縮略詞可能會根據上下文進行改寫。例如,此處列出的AFM指的是原子力顯微鏡本身,但AFM也可能指執行原子力顯微鏡的流程。是否應為常見的詞頭分配單獨的位置?

目前,這並非旨在成為與奈米技術相關的技術或流程的詳盡列表。相反,它旨在成為一個'羅塞塔石碑',供那些不熟悉此行話的人使用。

縮略詞

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AFM - 原子力顯微鏡

ALD - 原子層沉積(idem 任意層沉積)

CIGS - 硫化銅銦鎵硒

CNT - 碳奈米管

CVD - 化學氣相沉積

DSC - 差示掃描量熱法

DWNT - 雙壁碳奈米管

EB-PVD - 電子束物理氣相沉積

EBDW - 電子束直寫光刻

EELS - 電子能量損失譜

EMAC - 擴充套件金屬原子鏈

EUV - 極紫外光刻

ITO - 氧化銦錫

MOCVD - 金屬有機化學氣相沉積(idem 金屬有機物氣相外延)

MWNT - 多壁奈米管

NEMS - 奈米機電系統

NIL - 奈米壓印光刻

P-SWNT - 聚合單壁奈米管

PECVD - 等離子體增強化學氣相沉積

PLD - 脈衝雷射沉積(idem 脈衝雷射燒蝕)

PVD - 物理氣相沉積

RIE - 反應離子刻蝕

SAED - 選區電子衍射

SEM - 掃描電子顯微鏡

SIMS - 二次離子質譜

SiNW - 矽奈米線

SPL - 掃描探針光刻

SWNT - 單壁奈米管

STEM - 掃描透射電子顯微鏡

STM - 掃描隧道顯微鏡

TEM - 透射電子顯微鏡

UV/Vis - 紫外-可見光譜

VLS - 氣-液-固法(用於建立一維結構)

XPS - X射線光電子能譜

XRD - X射線衍射

YBCO - 氧化釔鋇銅

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