微技術/微機電系統 (MEMS)
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桑迪亞釋出了一套用於 MEMS 器件的“可靠性設計規則”,旨在避免早期 MEMS 器件測試中遇到的失效模式。最常見的失效機制是摩擦表面的磨損。 [1]
另請參見有關編輯此書籍的說明,瞭解如何新增參考文獻 微技術/關於#如何貢獻。
- ↑ Danelle M. Tanner 等人。 "MEMS Reliability: Infrastructure, Test Structures, Experiments, and Failure Modes". Sandia. 2000.