跳轉到內容

奈米技術/STM

來自華夏公益教科書,開放的書籍,開放的世界
導航
<< 上一頁: 原子力顯微鏡 (AFM)
>< 主頁: 奈米技術
>> 下一頁: 掃描近場光學顯微鏡 (SNOM)


掃描隧道顯微鏡

[編輯 | 編輯原始碼]
掃描隧道顯微鏡針尖-樣品相互作用的基本概述。當針尖距離樣品表面原子距離內,並施加約一伏左右的小偏壓時,可以測量隧道電流。透過調整針尖的高度,同時以固定的偏壓掃描針尖在表面上,始終保持恆定的隧道電流,就可以繪製出樣品形貌圖。
看一下超高真空 (UHV) 掃描隧道顯微鏡 (STM) 的超高真空 (UHV) 室。幾個夾具安裝在上面,用於在多個樣品支架和 STM 顯微鏡之間來回移動樣品,STM 顯微鏡是透過彈簧懸掛的管狀鍍金結構。

STM 技巧

[編輯 | 編輯原始碼]

參考資料

[編輯 | 編輯原始碼]

另請參閱有關編輯此書籍的說明,瞭解如何新增參考文獻 奈米技術/About#How_to_contribute



華夏公益教科書