奈米技術/掃描探針顯微鏡
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掃描探針顯微鏡 包括一系列方法，這些方法使用尖銳的探針以光柵模式掃描表面，並將與表面的相互作用記錄在每個畫素中，從而形成相互作用影像。 SPM 有多種方法和相互作用。 廣義上講，它可以分為三大類
- 在掃描隧道顯微鏡 (STM) 中，使用原子級尖銳的金屬探針，並在探針懸停在表面附近時記錄探針與表面之間的微弱隧道電流，此時電子可以在表面和探針之間移動。
- 在原子力顯微鏡 (AFM) 中，使用帶有尖銳探針的懸臂樑 - 有點類似於老式唱片的針 - 在表面上掃描，可以記錄形貌或表面柔軟度。
- 在掃描近場光學顯微鏡 (SNOM) 中，使用帶有小孔徑的探針在表面上掃描，收集來自比所用光波長小得多的區域的光。
- 原子力顯微鏡 (AFM)
- 開爾文力顯微鏡
- 磁力顯微鏡
- 掃描電壓顯微鏡
- 磁共振力顯微鏡
- 側向力顯微鏡
維基連結
- 掃描探針顯微鏡實用指南 作者：Rebecca Howland 和 Lisa Benatar
- 自制原子解析度顯微鏡
另請參閱關於如何新增參考文獻的有關編輯此書籍的說明 奈米技術/關於#如何貢獻。