裝置
在這個實驗中,最終的測量結果(機率分配給其可能的輸出)是在背景幕上檢測到電子,由位於D 處的探測器檢測到(D 是x 的特定值)。初始測量結果,機率分配基於此結果,是電子槍G 發射電子。(由於我們假設G 是自由電子的唯一來源,因此在狹縫板後面檢測到電子也表明在狹縫板前面發射了電子。)可選的或可能的中間結果是
電子通過了左邊的縫隙 (L ),
電子通過了右邊的縫隙 (R )。
相應的振幅是 A L {\displaystyle A_{L}} 和 A R . {\displaystyle A_{R}.}
為了計算它們,我們需要知道以下內容
A L {\displaystyle A_{L}} 是兩個複數的乘積,我們將使用符號 ⟨ D | L ⟩ {\displaystyle \langle D|L\rangle } 和 ⟨ L | G ⟩ . {\displaystyle \langle L|G\rangle .}
同樣地, A R = ⟨ D | R ⟩ ⟨ R | G ⟩ . {\displaystyle A_{R}=\langle D|R\rangle \,\langle R|G\rangle .}
⟨ B | A ⟩ {\displaystyle \langle B|A\rangle } 的絕對值與A 和B 之間的距離 d ( B A ) {\displaystyle d(BA)} 成反比。
⟨ B | A ⟩ {\displaystyle \langle B|A\rangle } 的相位與 d ( B A ) . {\displaystyle d(BA).} 成正比。
出於顯而易見的原因, ⟨ B | A ⟩ {\displaystyle \langle B|A\rangle } 被稱為傳播子 。
回憶一下 模糊性(“不確定性”)關係 ,這意味著 Δ p → ∞ {\displaystyle \Delta p\rightarrow \infty } 隨著 Δ x → 0. {\displaystyle \Delta x\rightarrow 0.} 在這個極限情況下,粒子的動量是完全不確定的,或者,等同於它根本沒有值。因此,在粒子最後一次“被看到”在 A 的情況下,在 B 處發現粒子的機率取決於初始位置 A ,但不取決於任何初始動量,因為沒有初始動量。因此,粒子在 A 處被探測到後所做的任何事情都與它之前所做的無關。在機率論術語中,這意味著粒子從 G 到 L 的傳播與其從 L 到 D 的傳播是獨立事件。因此,透過 L 從 G 到 D 的傳播機率是相應機率的乘積,因此,透過 L 從 G 到 D 的傳播幅度是相應幅度的乘積 ⟨ D | L ⟩ ⟨ L | G ⟩ {\displaystyle \langle D|L\,\rangle \langle L|G\rangle } 。
想象一個(i)半徑為 r {\displaystyle r} 的球體,其中心為 A ,以及(ii)一個監測該球體表面單位面積的探測器。由於總表面積與 r 2 , {\displaystyle r^{2},} 成正比,並且由於對於自由粒子,單位面積上的探測機率在整個表面上是恆定的(解釋一下為什麼!),因此單位面積上的探測機率與 r 2 . {\displaystyle r^{2}.} 成反比。因此,單位面積上的探測幅度 的絕對值(機率的平方根)與 r . {\displaystyle r.} 成反比。
連續傳播子的可乘性意味著它們的相位的可加性。再加上這樣一個事實,即對於自由粒子,傳播子 ⟨ B | A ⟩ {\displaystyle \langle B|A\rangle } (及其相位)只能取決於 A 和 B 之間的距離,這意味著 ⟨ B | A ⟩ {\displaystyle \langle B|A\rangle } 的相位與 d ( B A ) . {\displaystyle d(BA).} 成正比。
根據規則 A,在 G 處探測到從 D 發射的電子的機率為
p A ( D ) = | ⟨ D | L ⟩ ⟨ L | G ⟩ | 2 + | ⟨ D | R ⟩ ⟨ R | G ⟩ | 2 . {\displaystyle p_{A}(D)=|\langle D|L\rangle \,\langle L|G\rangle |^{2}+|\langle D|R\rangle \,\langle R|G\rangle |^{2}.}
如果狹縫與 G 等距,則 ⟨ L | G ⟩ {\displaystyle \langle L|G\rangle } 和 ⟨ R | G ⟩ {\displaystyle \langle R|G\rangle } 相等,並且 p A ( D ) {\displaystyle p_{A}(D)} 與
| ⟨ D | L ⟩ | 2 + | ⟨ D | R ⟩ | 2 = 1 / d 2 ( D L ) + 1 / d 2 ( D R ) . {\displaystyle |\langle D|L\rangle |^{2}+|\langle D|R\rangle |^{2}=1/d^{2}(DL)+1/d^{2}(DR).}
以下是根據 p A {\displaystyle p_{A}} 繪製的探測器位置 x {\displaystyle x} 的曲線圖
根據規則 A 預測的探測相對頻率
p A ( x ) {\displaystyle p_{A}(x)} (實線)是兩個分佈(虛線)的總和,一個代表透過L 的電子,另一個代表透過R 的電子。
根據規則 B,從G 發射的電子在D 被探測的機率 p B ( D ) {\displaystyle p_{B}(D)} 與以下公式成正比
| ⟨ D | L ⟩ + ⟨ D | R ⟩ | 2 = 1 / d 2 ( D L ) + 1 / d 2 ( D R ) + 2 cos ( k Δ ) / [ d ( D L ) d ( D R ) ] , {\displaystyle |\langle D|L\rangle +\langle D|R\rangle |^{2}=1/d^{2}(DL)+1/d^{2}(DR)+2\cos(k\Delta )/[d(DL)\,d(DR)],}
其中 Δ {\displaystyle \Delta } 是 d ( D R ) − d ( D L ) {\displaystyle d(DR)-d(DL)} 之差,而 k = p / ℏ {\displaystyle k=p/\hbar } 是波數,它足夠尖銳,可以近似為一個數字。(當然,您應該檢查此結果。)
以下是根據 p B {\displaystyle p_{B}} 繪製的 x {\displaystyle x} 的曲線圖,用於特定的一組波數、狹縫間距和狹縫板與背景間距的值
根據規則 B 預測的探測相對頻率
觀察到,在極小值附近,如果兩個狹縫都開啟,探測的機率比其中一個狹縫關閉時更低 。通常說干涉最小值處發生相消干涉,干涉最大值處發生相長干涉,但不要 將此視為物理過程的描述。我們所說的“相長干涉”僅僅是指根據規則 B 計算出的機率大於根據規則 A 計算出的相同機率,而我們所說的“相消干涉”僅僅是指根據規則 B 計算出的機率小於根據規則 A 計算出的相同機率。
以下是干涉圖樣隨時間變化的形成過程[ 1]
100 個電子
3000 個電子
20000 個電子
70000 個電子
↑ A. Tonomura, J. Endo, T. Matsuda, T. Kawasaki, & H. Ezawa, "Demonstration of single-electron buildup of an interference pattern", American Journal of Physics 57 , 117-120, 1989.